532 nm与785 nm怎样选择
激发波长会影响拉曼信号、荧光背景、探测响应与可用光学件。532 nm适用于许多低荧光样品；785 nm可在部分样品上减轻荧光影响，但并不保证所有样品的背景都更低。
先看真实样品在候选波长下的谱图，再评估峰强、荧光、曝光时间与受热情况。不能只按激光功率大小选系统。
激光清理、二向色与长通滤光分别做什么
激光清理片用于净化激发光谱，二向色片用于安排激发与收集光路，长通滤光片用于抑制强烈的瑞利散射并通过较长波长信号。三者需要与同一个激发波长配套。
近激光线的低位移测量受滤光截止边缘、入射角和整条光路影响。不能用长通片的单项指标替代完整系统的低波数端能力。
显微与探头采样关注点不同
显微系统用于观察和定位局部区域，应核对物镜工作距离、样品空间与实际光斑。外置探头便于远置采样，需要保持探头位置、工作距离和样品状态稳定。
光纤本身也可能带入背景。探头、光纤与滤光配置应配套，不能只依据接头一致判断能否互换。
分辨率、积分时间与样品受热
峰能否分开取决于完整系统的分辨能力；增加积分时间主要改善信号积累，不会使硬件分辨率自动提高。弱信号时，应同时检查对焦、光路和滤光。
从较低激发强度开始试测，观察峰形、背景与样品外观是否改变。对敏感样品，不能把更强激发和更长曝光简单视为更好。
怎样确认系统适合样品
使用代表性样品，并记录激发波长、功率设置、物镜或探头、积分时间与平均次数。重复测量同一位置，再比较不同位置，区分仪器波动和样品不均匀。
保留原始谱图与处理设置。背景扣除和峰拟合可以帮助解释，但不应掩盖饱和、荧光过强或样品变化。
选型信息与对应产品
需微区定位时查看MS显微拉曼系统；远置探头取样查看PS过程拉曼系统；自建光路可分别选择光谱仪、探头和适配滤光片组。
邮件中说明样品类型、目标位移区间、采样方式与期望测量时间，有已有谱图时一并提供。