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光谱仪、光谱测量系统与配套光源、光学部件和探测器,覆盖独立采集、显微测量和过程取样。
当前分类:光谱测量系统
光谱测量系统
结合显微定位与 532 nm 激发,用于微区材料的拉曼光谱测量。
结合显微定位与 785 nm 激发,用于需降低荧光干扰的微区拉曼测量。
将显微定位与可见漫反射采集结合,用于粉末和材料表面的局部光谱测量。
由反射式显微平台、FS-3000 光纤光谱仪和 LS-5000 激光驱动宽谱光源组成的分体系统,用于紫外可见局部漫反射测量。
532 nm 激发的主机与光纤探头组合,面向过程取样位置的拉曼光谱采集。
785 nm 激发的主机与光纤探头组合,面向过程取样位置的拉曼光谱采集。
光源、干涉仪与探测器同机箱集成,适用于紧凑型红外测量系统集成。
内置光源与干涉仪主模块配合外置MCT探测器,便于布置外部采样光路。
光谱仪
面向 532 nm 激发拉曼测量的光纤光谱仪,采用制冷背照式 CCD,需配套外部激光源。
面向 785 nm 激发拉曼测量的光纤光谱仪,采用制冷背照式 CCD,需配套外部激光源。
采用制冷背照式 CCD 的可见光纤光谱仪,标称检测范围 360–830 nm。
采用制冷背照式 CCD 的紫外可见光纤光谱仪,标称检测范围 200–800 nm。
采用制冷背照式 CCD 的可见近红外光纤光谱仪,标称检测范围 380–1040 nm。
集成 532 nm 激光源与制冷背照式 CCD 的拉曼光谱仪,可配套光纤探头或显微采样附件。
集成 785 nm 激光源与制冷背照式 CCD 的拉曼光谱仪,可配套光纤探头或显微采样附件。
集成可见照明光源与光谱分析单元的可见光谱仪,光谱分析单元标称检测范围为360–830 nm。
光源
白光、红光与紫光 LED 合束的 400–800 nm 光纤输出光源。
激光维持等离子体发光、经反射光路耦合入纤的紫外—可见—近红外宽谱光源。
探测器与采集模块
可选 ILX 系列芯片的 2048 像素线阵模块,用于可见至近红外光谱采集。
采用 S11639-01 或 S11638 的 16 bit 线阵 CMOS 模块,面向紫外可见光谱采集。
采用 TCD1304 的 3648 像素线阵 CCD 模块,适合小型设备嵌入与光谱读出。
可选 ILX511 或 ILX554 的紧凑型线阵 CCD 模块,支持软硬触发和采集参数设置。
Andor iVac 316 LDC-DD 深耗尽背照式制冷相机,面向可见近红外弱光光谱集成。
Raptor Toucan 261 制冷光谱 CCD 相机,提供传感器类型和制冷等级选件。
Hamamatsu S7031-1007S 背薄型制冷 CCD 传感器,适用于低照度光谱探测。
集成一级热电制冷与读出电路的 512 像素 InGaAs 近红外线列探测器。
光学部件
适配 532 nm 激发的拉曼光纤探头,用于把激发与收集光路接入样品位置。
适配 785 nm 激发的拉曼光纤探头,用于把激发与收集光路接入样品位置。
适配532 nm激发的三片式拉曼滤光片组,配套激光清理、分光与瑞利散射抑制。
适配785 nm激发的三片式拉曼滤光片组,配套激光清理、分光与瑞利散射抑制。
用于光谱照明与信号采集的多模光纤,连接光源、采样端与光谱仪,芯径、NA、长度及接头可按光路选配。
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