产品概览 / MS-2000
产品概览
系统由显微观察平台、组合 LED 宽谱光源、光纤耦合照明与收集光路、可见光谱分析单元及采集软件组成。样品经显微观察完成定位后，照明光投射到局部区域，漫反射光由物镜收集并传送至独立主机。配置 400–800 nm 组合光源、制冷背照式 CCD 及标准漫反射白板，可根据样品体系选用匹配参比，适用于催化剂、粉末和材料表面的反射光谱对比。
可配置系列。规格与供货范围以最终方案和合同为准。
配置要点
- 显微观察与局部漫反射采样结合，便于选择测量位置。
- 400–800 nm 多波段 LED 合束照明，光纤连接独立光谱单元。
- 内置标准漫反射白板，也可选用样品匹配参比。
- 电动衰减滤光轮便于调整照明光强。
- 制冷背照式 CCD 配合采集软件记录反射光谱。
应用方向
催化剂与粉末样品的局部反射光谱；材料表面不同位置对比；可见波段反射特征研究。
SPECIFICATIONS / MS-2000
产品参数
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 测量范围 | 380–830 nm |
| 光源 | 多波段 LED 合束冷光源，输出 ≥50 mW |
| 光谱分辨率（100 μm 狭缝） | ≤2.2 nm |
| 光栅 | 400 线/mm |
| 显微采样光斑 | 约 100 μm |
| 物镜 | 半复消色差 50×/NA 0.50，工作距离 10.6 mm |
| 照明光纤 | 高羟基抗太阳化石英光纤，200 μm 芯径，NA 0.22 |
| 电动衰减滤光轮 | 六位：通光、OD 1/2/3/4 与全遮光；切换并稳定时间 <1 s |
| 光谱仪光路 | 交叉式 Czerny–Turner，焦距约 120 mm，f/3.5 |
| 狭缝 | 100 μm 标配，50 μm 可选 |
| 探测器 | 背照式 CCD，1024 × 128 像素，24 μm 像元，200–1100 nm 响应；单级热电制冷至 −10 ℃ |
| 定位物镜 | 四孔转盘；PL 5×/NA 0.12、PL L10×/NA 0.25、PL L20×/NA 0.40；按光谱模块占用孔位调整，至少保留 PL 5× |
| 观察方式 | 同轴相机实时观察光斑位置与焦点；目镜通道用于白光形貌观察 |
| 观察相机 | C 接口彩色 CMOS，1/2.5 英寸，3840 × 2160 像素，1.62 μm 像元，380–1030 nm 响应 |
| 落射照明 | 6 V / 20 W 卤素灯，亮度可调，带视场光栏与孔径光栏 |
| 调焦 | 粗微动同轴调焦，微动格值 2 μm，带锁紧与限位 |
| 载物台 | 双层机械移动式，185 × 140 mm；移动范围 75 × 50 mm |
| 收集光纤 | 12 芯圆转直光纤束；单芯 105 μm，NA 0.15 |
DETAILS / MS-2000
技术说明
反射光谱以标准白板或样品匹配参比为基准，测量时应保持照明、焦点、采样位置和参比条件一致。收集立体角由物镜数值孔径限定，所得结果与积分球式半球收集不同。进行 Kubelka–Munk 或 Tauc 分析前需确认样品及测量几何是否满足相应条件。光谱仪标称范围与光源覆盖范围分别列示，系统有效端点以整套光路的实测结果为准。
光谱仪标称覆盖 380–830 nm；自研组合光源标称工作波段为 400–800 nm，系统实际可用端点按实测确认。物镜限定收集几何；反射率以白板或样品匹配参比为基准，与积分球式测量的绝对值不直接等同。
