光谱系统 / PV0380

过程可见漫反射光谱仪

以光纤探头接触或远置采样的可见漫反射系统。

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过程可见漫反射光谱仪
示意图,非实物照片;实际外观以交付配置为准。

产品概览 / PV0380

产品概览

将宽谱 LED 光源、漫反射探头、独立可见光谱单元与采集软件组成过程测量链。

可配置系列。规格与供货范围以最终方案和合同为准。

配置要点

  • 380–830 nm 可见波段
  • 光纤探头适配采样位置
  • 可配置样品匹配参比
应用方向

粉末、颗粒及材料表面反射光谱测量

SPECIFICATIONS / PV0380

产品参数

参数规格
光谱仪标称范围380–830 nm
光源多波段 LED 合束光源,标称 400–800 nm
光谱分辨率(100 μm 狭缝)≤2.2 nm
光栅400 线/mm
光谱仪光路交叉式 Czerny–Turner,焦距约 120 mm,f/3.5
狭缝100 μm 标配,50 μm 可选
探测器背照式 CCD,1024 × 128 像素,单级热电制冷至 −10 ℃
采集接口USB 2.0
探头几何与工作距离按项目样品和工况确认

DETAILS / PV0380

技术说明

该机为 DV 可见漫反射构型,采集链参数采用现有装配配置;系统可用波段受 400–800 nm 光源约束。探头测量的收集几何与显微物镜或积分球均不同,参比方法按应用确定。

一起确认适合的配置。

告诉我们样品、测量目标与使用环境。

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